接觸式干涉儀是一種立式精密長度計量儀器，采用量塊或標準零件進行高精度比較。它主要用于測量150mm以下的塊規(guī)，也可以用于高精度的長度和外徑的精密測量。應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、光學(xué)制造準直儀制造、光學(xué)刻蝕制造、金屬加工制造、航空航天制造等領(lǐng)域。接下來請跟著儀器檢定校準機構(gòu)華準計量，一起來具體了解一下接觸式干涉儀校準。
檢定前準備：進行接觸式干涉儀的檢定前，需要完成一系列的準備工作。包括清潔儀器，檢查儀器的外表面及光路是否干凈，如有污物需清理干凈。同時確認校準裝置是否完好，并確認校準裝置與儀器之間的連接是否正常。還要確認測量基準是否與被測物體表面垂直，以及測量過程中是否會發(fā)生位移。
接觸式干涉儀校準：通過校準儀器的干涉條紋對齊，使其適應(yīng)被測物體表面的形態(tài)，以實現(xiàn)精確測量。
接觸式干涉儀穩(wěn)定性校準：通過比較同一光源下的兩個干涉圖案，來檢測干涉儀系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
接觸式探頭校準：通過使用標準刀具進行校準，來確保探頭的測量精度和穩(wěn)定性。
另外，JJG101-2004《接觸式干涉儀》檢定規(guī)程還規(guī)定，儀器的示值誤差以二等量塊配對法檢定，檢定工作應(yīng)在分度值為0.2μm、受檢點為50分度時進行。檢定時需要將濾光片放置在儀器上，調(diào)整干涉條紋使其對齊，以完成定標工作。示值誤差的計算方法為Δ=0.03+1.5ni—刻度尺的分度值。在完成檢定后，應(yīng)該記錄各個檢定點的示值誤差并進行數(shù)據(jù)處理。
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